ME-L是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，凝聚了科研团队在椭偏技术多年的投入，其采用行业前沿的创新技术，包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。可应用于半导体薄膜结构，半导体周期性纳米结构，新材料，新物理现象研究，平板显示，光伏太阳能，功能性涂料，生物和化学工程，块状材料分析以及各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表

产品简介：DSA-X光学接触角测量仪配置高分辨率的高速工业相机搭配LED冷光源，获得高清图像并通过全新优化的软件进行计算拟合从而获得准确的测试数据。仪器机构结合了人体工程学，提供人性化的自动化进样调节、样品台调节、光学系统调节等，使测试变得精确而快速高效。

为满足现场快速检测多元化的需求，因此Finder lnsight系列增加了一款革命性的产品，因其小巧便携性，功能的多样性，被人称之为“百变小金刚”。

TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。TF200薄膜厚度测量系统根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。

SGC-10薄膜测厚仪适用于介质，半导体，薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是我公司与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司*的薄膜测厚技术，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。

SSR-3000便携式拉曼检测仪采用工业级的防水、防尘、防震、防摔设计，适合各种恶劣环境下使用，可靠性、稳定性更高。设备自带操作系统和人性化软件交互界面，集成了*的智能解谱和光谱分析算法，*做到“一键操作”。SSR-3000便携式拉曼检测仪适用于：‍珠宝玉石鉴定、文物鉴别；生物医药检测、材料表征、地址勘探等；食品违禁添加物、色素添加、农兽药残留检测；爆炸物、危险化工品、易燃易爆品检测；